中圖儀器CEM3000系列納米材料觀測(cè)掃描電鏡的抗振設(shè)計(jì)，在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。可通過(guò)加裝各類(lèi)探頭和附件，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、能源等多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

不同于立式電鏡，CEM3000系列納米材料觀測(cè)掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該系列臺(tái)式電鏡也可以進(jìn)入手套箱、車(chē)廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。即便在一些常規(guī)電鏡難以耐受的工作環(huán)境中，該系列臺(tái)式電鏡也能憑借抗振防磁技術(shù)，展現(xiàn)出色的性能。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測(cè)需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時(shí)間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專(zhuān)業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強(qiáng)抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉(cāng)內(nèi)真空度，進(jìn)而對(duì)不同類(lèi)型的樣品進(jìn)行觀測(cè)。

7.大樣品倉(cāng)

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉(cāng)室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測(cè)器

可實(shí)現(xiàn)四分窗同時(shí)掃描成像。

性能特色

1、緊湊外型

該系列臺(tái)式掃描電鏡整機(jī)經(jīng)過(guò)深入優(yōu)化，在結(jié)構(gòu)方面達(dá)到了優(yōu)尺寸利用率，確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約，無(wú)論是日常的工作桌面、還是狹小空間，CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡總能陪伴用戶出現(xiàn)在有需要的地方。

2、自動(dòng)調(diào)節(jié)

用戶可借助自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

3、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測(cè)需求。

4、高抗振防磁性能

該系列臺(tái)式電鏡采用特殊設(shè)計(jì)的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動(dòng)對(duì)電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能，消除場(chǎng)地因素對(duì)電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設(shè)計(jì)的高性能復(fù)合抗振系統(tǒng)來(lái)消除外界振動(dòng)對(duì)電鏡的影響，即使是在高放大倍數(shù)下成像，用戶也不用擔(dān)心環(huán)境振動(dòng)對(duì)電鏡產(chǎn)生的干擾。

5、選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶需求，可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設(shè)定電鏡工作時(shí)的倉(cāng)內(nèi)真空度(倉(cāng)內(nèi)真空度低可達(dá)100Pa)，以滿足不同類(lèi)型樣品的觀測(cè)需求。

6、操縱手柄

操作手柄上集成了多個(gè)方向位移控制，自動(dòng)調(diào)整及自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)消像散等功能，可快速完成觀測(cè)位置調(diào)整及自動(dòng)成像。

7、豐富的定制功能

根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動(dòng)化的顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量等選配功能。

可根據(jù)用戶需求提供全自動(dòng)軟件定制服務(wù)。

8、高精度樣品臺(tái)

該系列臺(tái)式電鏡采用全新設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)，各自動(dòng)軸均保證了動(dòng)作精度和高重復(fù)性。

9、高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶在快速掃描時(shí)也能獲取到充足的信號(hào)。即使針對(duì)微弱信號(hào)，CEM3000系列臺(tái)式電鏡搭載的處理算法亦可將信號(hào)從背底中進(jìn)行高效剝離，確保成像質(zhì)量。

機(jī)型選擇

CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）：70mm×70mm樣品倉(cāng)，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專(zhuān)為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應(yīng)用領(lǐng)域

該電鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌?lèi)型的樣品進(jìn)行觀測(cè)，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時(shí)接收多種信號(hào)，對(duì)樣品進(jìn)行分析。